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VLSI 测试系统


致茂完整的半導體測試解決方案不僅協助客戶控制測試成本,同時仍維持品質表現,是提高競爭力的最佳方案。


为因应未来IC晶片须具更高速度及更多脚位及功能更复杂的IC晶片,Chroma新一代VLSI测试机 3380D/380P/3380除采用更弹性架构外,整合密度更高且功能更强大。


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为因应未来IC晶片须具更高速度及更多脚位及功能更复杂的IC晶片,Chroma新一代VLSI测试机 3380D/380P/3380除采用更弹性架构外,整合密度更高且功能更强大。

3380D/3380P/3380机型为因应高同测功能 (High Parallel Test),除内建独特的4-wire功能高密度IC电源(VI source) 外,更具备any-pins-to-any-site高同测功能( 256 I/O pin可 同测256个测试晶片),以因应未来IC晶片更高的测试需求。

3380D/380P/3380 系列同时具备机框式直流电源供应的小型/低耗能化设计及非常具竞争性的机台性价比。

满足晶片测试的各种应用

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