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SoC测试系统 3650系列

要配合现今功能日趋复杂的IC晶片,需要具备功 能强大而且多样化的测试系统。为了达成具成 本效益的测试解决方案,必须藉由降低测试时 间和整体成本来达成,而非只是简单地减少测 试系统的价格而已。

虽然半导体产业是一个变化快速的产业,但其 资产设备应建立在可符合长时间需求的设备之 上。

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